ASTM F1262M-2014 数字集成电路的瞬时辐射固定阈试验的标准指南(米制)

百检网 2021-08-04

标准号：ASTM F1262M-2014
中文标准名称：数字集成电路的瞬时辐射固定阈试验的标准指南(米制)
英文标准名称：Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits 40;Metric41;
标准类型：L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：031.200

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