标准号：SJ/T 10435-1993
中文标准名称：半导体电阻应变计总规范(可供认证用)
英文标准名称：General Specification for the semiconductor resistance strain gage
标准类型：L40
发布日期：1993/12/17 12:00:00
实施日期：1994/6/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：本标准规定了半导体电阻应变计的基本技术要求，质量评定程序和试验方法。 本标准适用于以半导体压阻效应为基本原理而制造的半导体电阻应变计，包括体型应变计、扩散型半桥应变计、扩散型全桥(如硅膜片、硅粱、硅柱等)应变计。
SJ/T 10435-1993 半导体电阻应变计总规范(可供认证用)
百检网 2021-08-04
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