标准号：KS C 0256-2002
中文标准名称：硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法
英文标准名称：Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe
标准类型：K10
发布日期：2002/5/29 12:00:00
实施日期：2002/5/29 12:00:00
中国标准分类号：K10
适用范围：이 규격은 실리콘 단결정(이하 단결정이라 한다.) 및 실리콘 웨이퍼(이하 웨이퍼라 한다
KS C 0256-2002 硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法
百检网 2021-08-04
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