DIN EN 60749-23-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期(IEC 60749-23-2004 + A1-2011).德文版本EN 60749-23-2004

百检网 2021-08-04

标准号：DIN EN 60749-23-2011
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期(IEC 60749-23-2004 + A1-2011).德文版本EN 60749-23-2004 + A1-2011
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2011/7/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
引用标准：IEC 60747;IEC 60749-34

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