20192064-T-339 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 正在审查

标准号：20192064-T-339
中文标准名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
英文标准名称：Semiconductor intergrated circuits measursing method of holzer circuit
标准状态：正在审查
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院
相近标准：  半导体集成电路 霍尔电路测试方法;GB/T 14028-2018  半导体集成电路 模拟开关测试方法;  半导体集成电路 模
标准制修订：制订