20192067-T-339 集成电路金属封装外壳质量评价要求 正在审查

标准号：20192067-T-339
中文标准名称：集成电路金属封装外壳质量评价要求
英文标准名称：Quality evaluation requirements for metal packages used for integrated circuits
标准状态：正在审查
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：合肥圣达电子科技实业有限公司
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院
起草人：安琪
相近标准：  集成电路金属封装外壳质量评价要求;SJ/T 10176-1991  半导体集成电路金属菱形外壳详细规范;GB/T 39842
标准制修订：制订