20204892-T-469 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 正在起草

标准号：20204892-T-469
中文标准名称：半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
英文标准名称：Test method for crystalline quality of semiconductor single crystal —— X-ray diffraction method
标准状态：正在起草
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号：77.040
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所
相近标准：  半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法;  半导体单晶晶向测定方法;20065620-T-469  半导体单晶晶向测定方法
标准制修订：制订