20204063-T-339 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 正在征求意见

标准号：20204063-T-339
中文标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity-TEM Cell and wideband TEM Cell method
标准状态：正在征求意见
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院
相近标准：  集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;  集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗
标准制修订：制订