GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行

标准号：GB/T 35007-2018
中文标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2018/3/15 12:00:00
实施日期：2018/8/1 12:00:00
中国标准分类号：工业和信息化部电子工业标准化研究院
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：成都振芯科技股份有限公司
起草人：陈雁
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