GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 现行

标准号：GB/T 34002-2017
中文标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2017/7/12 12:00:00
实施日期：2018/6/1 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：北京科技大学
起草人：郜欣
相近标准：20140650-T-469  微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法;DB31/T 315-200