20182282-T-339 半导体集成电路 AC/DC测试方法 正在征求意见

标准号：20182282-T-339
中文标准名称：半导体集成电路 AC/DC测试方法
英文标准名称：Test Method For AC/DC Devices of Semiconductor Integrated Circuits
标准状态：正在征求意见
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
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标准制修订：制订