20184235-T-339 半导体器件 机械和环境试验方法 第23部分：高温工作寿命 正在批准

标准号：20184235-T-339
中文标准名称：半导体器件 机械和环境试验方法 第23部分：高温工作寿命
英文标准名称：Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life
标准状态：正在批准
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：冉红雷
相近标准：  半导体器件 机械和环境试验方法 第23部分：高温工作寿命;GB/T 4937-1995  半导体器件机械和气候试验方法;20
标准制修订：制订