ASTM F1892-2004 半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南

百检网 2021-08-05

标准号：ASTM F1892-2004
中文标准名称：半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
英文标准名称：Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

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