标准号:NF C96-022-6-2002
中文标准名称:半导体装置.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6 : storage at high temperature.
标准类型:L40
发布日期:2002/12/1 12:00:00
实施日期:2002/12/5 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01