标准号:ASTM F1153-1992(1997)
中文标准名称:用电容-电压测量法对硅金属氧化物结构特性的试验方法
英文标准名称:Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements
标准类型:L11
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L11