SY/T 7053-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法 现行

标准号：SY/T 7053-2016
中文标准名称：半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
标准状态：现行
标准类型：行业标准
发布日期：2016/1/15 12:00:00
实施日期：2016/6/1 12:00:00
中国标准分类号：恩云飞
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
主管部门：工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
起草人：何玉娟
相近标准：20201546-T-339  半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法;
行业分类：无