SY/T 5562-2016 半导体集成电路 电平转换器测试方法 现行

标准号：SY/T 5562-2016
中文标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
标准状态：现行
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：中国电子科技集团公司第五十八研究所
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：深圳市国微电子有限公司
起草人：宦承永
相近标准：GB/T 35006-2018  半导体集成电路 电平转换器测试方法;  半导体集成电路 电平转换器测试方法;SJ/T 1080
标准制修订：制订