标准号:20153647-T-610
中文标准名称:电子学特性测量 大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布
英文标准名称:Electronic characteristic measurements—Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:电子科技大学
国际标准分类号:17.220.20,29.050
归口单位:全国超导标准化技术委员会
主管部门:中国科学院
起草单位:上海大学
起草人:陶伯万
相近标准:GB/T 39843-2021 电子学特性测量 大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布; 电性能测试 大面积超导薄膜的局域临
标准制修订:制订