标准号:NY/T 3057-2016
中文标准名称:微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析
英文标准名称:Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准状态:现行
标准类型:国家标准
发布日期:2012/7/31 12:00:00
实施日期:2013/2/1 12:00:00
中国标准分类号:吴伟
国际标准分类号:71.040.99
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人:李香庭
相近标准:20100322-T-469 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析;GB/T 20725-2006 波谱