标准号:20091793-T-491
中文标准名称:纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
英文标准名称:Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:纳米技术及应用国家工程研究中心
国际标准分类号:17.040.20
归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门:中国科学院
起草单位:上海交通大学
起草人:李慧琴
相近标准:GB/T 36969-2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法;GB/T 33714-2017 纳米技术 纳
标准制修订:制订