标准号:20051273-T-339
中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:崔波
国际标准分类号:31.080.01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:李丽霞
相近标准:GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST);GB/T 49
标准制修订:制订