标准号:20051272-T-339
中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:崔波
国际标准分类号:31.080.01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:李丽霞
相近标准:GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法;GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法
标准制修订:制订