1.设备简介
JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，在同类显微镜中，它的分析功能*强、获得的图像质量*高。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。
2.设备功能
基础研究、显微形貌观察、固体物质微结构研究、高分辨显微术、晶体结构及晶体缺陷分析、物质微区元素成分测定。
3.附件
（1）一体化扫描透射(STEM)系统
分辨率：0.2 nm （明场像线分辨率）
探头：高角环形暗场探头（HAADF）和明场探头
TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒
STEM放大倍数范围150x - 230Mx
（2）牛津公司电制冷能谱仪系统（X-Max80T）
电制冷能谱探测器分辨率(Mn K线)：优于127eV(STD)
（3）Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统（OneView）
（4）Hysitron PI95
（5）Gatan公司EELS
1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；
3、工程师一对一服务，让检测更精准；
4、免费初检，初检不收取检测费用；
5、自助下单 快递免费上门取样；
6、周期短，费用低，服务周到；
7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；
8、检测报告权威有效、中国通用；
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