安规（XY）电容器可靠性试验执行的标准是GB/T6346.14-2015《电子设备用的固定电容器》中的相关条款，对应的IEC标准是IEC60384-14:2005。
安规电容可靠性试验标准
GB/T 2423.1-2001电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法
GB/T 2123.2-2001电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-1993电工电了产品基木环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法
GB/T 2123.22-2002电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法
GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安规电容可靠性试验方法
安规电容可靠性试验项目、试验方法及要求
一、高温负荷
1. Y电容高温负荷试验方法
试验温度：*高温度+10℃
试验时间：96H+8H
实验电压：Y1、Y2:1000VAC
电容并联测试
恢复1——2小时测试电性能
2. X电容高温负荷试验方法
试验温度：*高温度115℃
试验时间：96H+8H
实验电压：700VDC±3V
电容并联测试
恢复1——2小时测试电性能
高温负荷试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.5
漏电流：试验前后的Cpk值>1.5
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.5
绝缘电阻：试验前后的Cpk值>1.5
注：试验电路板上要串联一个大约1KΩ1/4W的保护电阻，且施加负荷电压时不可瞬间施加其试验电压，应逐步加压至试验电压，待其稳定后每H检测负荷电压是否在规定范围内！
二、温度冲击
1. Y电容温度冲击试验方法
试验条件：*高温度与*低温度来回循环5次，每次0.5H
恢复1——2小时测试电性能
2. X电容温度冲击试验方法
试验条件：*高温度与*低温度来回循环5次，每次0.5H
恢复1——2小时测试电性能
温度冲击试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.5
漏电流：试验前后的Cpk值>1.5
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.5
绝缘电阻：试验前后的Cpk值>1.5
三、耐湿负荷
1. Y电容耐湿负荷试验方法
试验温度：40℃±3℃
湿度：93%±3%
试验时间：96H+8H
实验电压：Y1、Y2:1000VAC
电容并联测试
恢复1——2小时测试电性能
2. X电容耐湿负荷试验方法
试验温度：40℃±3℃
湿度：93%±3%
试验时间：96H+8H
实验电压：700VDC±3V
电容并联测试
恢复1——2小时测试电性能
耐湿负荷试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.5
漏电流：试验前后的Cpk值>1.5
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.5
绝缘电阻：试验前后的Cpk值>1.5
注：试验电路板上要串联一个大约1KΩ 1/4W的保护电阻，且施加负荷电压时不可瞬间施加其试验电压，应逐步加压至试验电压，待其稳定后每4H检测负荷电压是否在规定范围内！
四、温度特性
1. 低温特性试验方法
测试条件：*低温度±3℃
0.5H后测试其电性参数
试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.0
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.0
2. 高温特性试验方法
测试条件：*高温度±3℃
0.5H后测试其电性参数
高温特性试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.0
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.0
3. 高温存储试验方法
测试温度：*高温度±3℃
试验时间：1000H+24H
恢复1-2小时测试电性能
试验后参数与外观要求
外观：无显著异常
容量变化率：试验前后的Cpk值>1.5
漏电流：试验前后的Cpk值>1.5
DF（损耗角）：试验前后的Cpk值>1.5
绝缘电阻：试验前后的Cpk值>1.5
