GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 现行

标准号：GB/Z 32490-2016
中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
英文标准名称：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
标准状态：现行,发布于2016-02-24; 实施于2017-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：指导性技术文件
发布日期：2016-02-24
实施日期：2017-01-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：清华大学;中山大学
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO/TR 18932:2005。
采标中文名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序。
相近标准：20110878-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序; GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; 20121403-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能的评估方法; GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准; 20150514-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准; 20020615-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准