GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试 被代替

标准号：GB/T 22586-2008
中文标准名称：高温超导薄膜微波表面电阻测试
英文标准名称：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
标准状态：被代替,发布于2008-12-15; 实施于2009-05-01; 被代替于2018-10-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2008-12-15
实施日期：2009-05-01
中国标准分类号：77.040.99
国际标准分类号：77.040.99
归口单位：全国超导标准化技术委员会
执行单位：全国超导标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
起草单位：电子科技大学;南京大学等;清华大学
被以下标准代替：被GB/T22586-2018GB/T22586-2018全部代替
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。
采标中文名称:电子性能测量 微波频率下超导体的表面电阻。
相近标准：20032460-T-491 高温超导薄膜微波表面电阻测试; DB34/T 2843-2017 高温超导叠制造工艺及试验方法; GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻; 20142502-T-491 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻; 20153870-T-491 电性能测试 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化; 电性能测试 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化; GB/T 30537-2014 超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度; 20100977-T-491 超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度; 20132582-T-491 电性能测试 微波频率下超导薄膜的本征表面阻抗; 20191892-T-491 临界电流测量 第二代高温超导长带临界电流及其沿长度方向均匀性测量