标准号：CNS 5074-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-自然落下试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Free Fall
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：19.0419.083
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定电子装置用单件半导体装置在遭受使用上、搬运及实用上所引起之不规则重复冲击时，其构造及机械上能耐此种冲击之程度之试验方法。
CNS 5074-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-自然落下试验
百检网 2021-07-13
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