NF C96-022-1-2003 半导体装置.机械和气候试验方法.第1部分:总则

百检网 2021-07-14

标准号：NF C96-022-1-2003
中文标准名称：半导体装置.机械和气候试验方法.第1部分:总则
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general.
标准类型：L40
发布日期：2003/11/1 12:00:00
实施日期：2003/11/5 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01

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