IEEE 1505.1-2008 利用IEEE Std 1505™高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准

标准号：IEEE 1505.1-2008
中文标准名称：利用IEEE Std 1505™高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准
英文标准名称：IEEE Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505™
标准类型：L23
发布日期：2008/11/21 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L23
国际标准分类号：31.220.10
引用标准：IEEE Std 1505-2006
适用范围：The scope of this trial-use standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505™ 1 receiver fixtureinterface (RFI). The pin map defined within this trial-use standard shall apply to military and aerospaceautomatic test equipment (ATE) testing applications.