KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

百检网 2021-07-15

标准号：KS D ISO 18118-2005
中文标准名称：表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
英文标准名称：Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
标准类型：G04
发布日期：2005/12/28 12:00:00
实施日期：2005/12/28 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
适用范围：이 규격은 오제(Auger) 전자 분광기와 X선 광전자 분광기를 사용하여, 균질 재료의 정

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