NF C96-022-1999 W

标准号：NF C96-022-1999
英文标准名称：Semicoductor devices - Mechanical and climatic test methods
标准状态：W
标准类型：国际标准
发布日期：1999-12-20
有效日期：2003-11-05
国际标准分类号：31.080.01
被以下标准代替：NF EN 60749-3-2002%NF C96-022-3-2002%NF EN 60749-2-2002%C96-022-2NF EN 60749-4-200212 C96-022-4-2002%NF EN 60749-6-2002%NF C96-022-6-2002%NF EN 60749-7-2002%NF C96-022-7-2002%NF EN 60749-9-2002%NF C96-022-9-2002%NF EN 60749-10-2002%NF C96-022-10-2002%NF E