KS C IEC 60749-2-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压

百检网 2021-07-20

标准号：KS C IEC 60749-2-2004
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
英文标准名称：Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 2：Low air pressure
标准类型：K46
发布日期：2004/11/29 12:00:00
实施日期：2004/11/29 12:00:00
中国标准分类号：K46
国际标准分类号：31.080.00
适用范围：이 규격은 반도체 소자의 저 대기압 시험을 다루고 있다. 시험은 감압 중에 대기 및 기

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

上一篇《ISO 10673-2009 螺栓垫圈和垫圈组件.小号,标准和大号系列.产品级别A 》

下一篇《DIN EN 15333-1-2008 呼吸装置.压缩气体驱动装置用开路脐带式电缆.第1部分:需氧量供应装置》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

最新资讯