标准号：DIN IEC/TS 62132-9-2015
中文标准名称：集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法 (IEC/TS 62132-9-2014)
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC/TS 62132-9:2014)
标准类型：L55
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
引用标准：DIN IEC/TS 61967-3-2015;DIN EN 62132-1-2006;IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011;IEC 60050-113 AMD 1-2
DIN IEC/TS 62132-9-2015 集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法 (IEC/TS 62132-9-2014)
百检网 2021-07-30
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