GB/T 4937.3-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分：外部目检

百检网 2021-07-31

标准号：GB/T 4937.3-2012
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分：外部目检
英文标准名称：Semiconductor devices.Mechanical and climatic tests methods.Part 3:External visual examination
标准类型：L40
发布日期：2012/11/5 12:00:00
实施日期：2013/2/15 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

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