标准号：GB/T 11685-2003
中文标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文标准名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
标准类型：F80
发布日期：2003/7/7 12:00:00
实施日期：2004/1/1 12:00:00
中国标准分类号：F80
国际标准分类号：27.120.01
适用范围：本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
百检网 2021-08-04
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