20192073-T-339 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 带状线法 正在审查

标准号：20192073-T-339
中文标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 带状线法
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity- Part 8: Measurement of radiated immunity-IC stripeline method
标准状态：正在审查
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：工业和信息化部电子第五研究所
国际标准分类号：31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子技术标准化研究院
起草人：吴建飞
相近标准：  集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 带状线法;  集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真
标准制修订：制订