二次离子质谱分析去哪里做?通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段,尤其是对于分析不同薄层中的材料,以及相邻两层之间材料的相互影响。
检测范围
通过质谱图可以用来获取样品表面的分子、元素及同位素的信息,可以探测化学元素或化合物在样品表面和内部的分布,也可以用于生物组织和细胞表面或内部化学成分的成像分析,配合样品表面扫描和剥离(溅射剥离速度可以达到10微米/小时),还可以得到样品表层或内部化学成分的三维图像。
检测标准
1GB/T 20176-2006表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
2GB/T 22572-2008表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
3GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
4GB/T 24580-2009重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
5GB/T 25186-2010表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
6GB/T 29851-2013光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
7GB/T 29852-2013光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
8GB/T 32281-2015太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
9GB/T 32495-2016表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法
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二次离子质谱流程
1、前期咨询
2、邮寄二次离子质谱样品或上门取样。
3、工程师报价
4、支付检测费用,开展实验。
5、完成实验,出具检测报告。
6、邮寄检测报告,售后服务。