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主要用于溅射Ti、Al、Ni、Au、Ag、Cr、Pt、Cu、TiW、Pd、Pt、Zn等金属薄膜,AlN、SiO2等介质薄膜 *限真空:7E-8 Torr( 30分钟从 atm 抽到 5E-6 Torr ) 薄膜均匀性:±5% ( 4英寸 ) 靶源:2个4英寸,4个2英寸。样品兼容4英寸及以下尺寸。 电源:具备RF(600W), DC 和 Pulse DC(1KW) 样品温度:0-500oC 工艺气体:Ar, O2, N2
电子在电场E的作用下,在飞向基片过程中与氩原子发生碰撞,使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加速飞向阴*靶,并以高能量轰击靶表面,使靶材发生溅射。在溅射粒子中,中性的靶原子或分子沉积在基片上形成薄膜,而产生的二次电子借助于靶表面上形成的正交电磁场,被束缚在靶表面特定区域,增强电离效率,增加离子密度和能量,从而实现高速率溅射。是制备低维度,小尺寸纳米材料器件的必备实验手段,广泛应用于集成电路,光子晶体,低维半导体等领域。
服务信息
溅射Ti、Al、Ni、Au、Ag、Cr、Pt、Cu、TiW、Pd、Pt、Zn等金属薄膜,AlN、SiO2等介质薄膜
1200
每小时800元 60元/10nm贵金属