汽车电子元器件正弦扫频振动试验是模拟车辆在严酷环境下的可靠性测试，也是AEC-Q认证腔封装完整性测试中的一项重要测试。
汽车电子元器件正弦扫频振动试验
测试设备
正弦扫频振动试验仪
测试标准
JEDEC JESD22-B103 振动，变频标准
测试要求
1、产品应能经受X、Y、Z三个方向的扫频振动试验。根据产品的安装部位，其扫频振动试验的严酷度等级应符合标准的规定。
2、产品通常在不工作及正常安装状态下经受试验，当需要在工作状态下试验时，应在产品标准中做出规定。产品经振动试验后，零部件应无损坏，紧固件应无松脱现象，性能应符合标准规定。
3、振动试验的检测点一般定为试验夹具与试验台的结合处，当检测点有特别要求时应在产品标准中规定。
4、试验只接受0失效
AEC Q100
测试对象
集成电路
测试数量
15pcs
测试程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（对数扫频）＞4min，
2、每轴向4次，峰值加速度50g。
3、测试前后的性能检查在常温下测试8h。
AEC Q101
测试对象
离散半导体
测试数量
15pcs
测试程序
1、试样为密封件。
2、20Hz——100Hz 峰峰值位移：0.06inch;。
3、100Hz——2000Hz,加速度50g。
4、测试前后的性能检查在常温下测试8h。
AEC Q102
测试对象
离散光电半导体器件
测试数量
10PCS
测试程序
1、20Hz——100Hz 峰峰值位移：0.06inch，
2、100Hz——2000Hz,加速度20g，
测试前后的性能检查在常温下测试8h。
AEC Q103-002
测试对象
微机电系统(MEMS)压力传感器器件
测试数量
39pcs
测试程序
1、M1等级：20Hz——2000Hz——20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g
2、M2等级：10Hz——2000Hz——10Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g
3、测试前后的性能检查在常温下测试8h。
4、备选方案：由任务文件制定。
AEC Q103-003
测试对象
微机电系统(MEMS)麦克风器件
测试数量
12pcs
测试程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（对数扫频）＜12min，
2、每轴向4次，峰值加速度20g，
3、测试前后的性能检查在常温下测试8h。
AEC Q104
测试对象
多芯片模块(MCM)
测试数量
15pcs
测试程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（对数扫频）＞4min。
2、每轴向4次，峰值加速度50g，
3、测试前后的性能检查在常温下测试8h。
试验测试周期
在实验室排期能满足的情况下，一般2-3个月。
试验测试费用
根据客户提供的详细规格书，依据AEC-Q标准，进行标准解读，有些项目不需要进行，也就是说做车规AEC-Q认证，并非AEC-Q认证里面列明的所有试验项目都需要执行，根据试验项目决定测试费用。
.png)
