标准简介
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。英文名称：Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 20724-2006
中标分类：仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
出版日期：2021-12-01
页数：24页
前言
电化学、热化学、光学式分析仪器相关标准
