标准简介
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。英文名称：Test method for dielectric properties of dielectric crystal
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：电子学>>31.020电子元件综合
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1997-05-28
实施日期：1998-02-01
出版日期：2004-04-11
页数：平装16开， 页数：7， 字数：8千字
前言
电子技术专用材料相关标准
