标准简介
本标准规定了符合GB/T14916-2006所定义识别卡特性的一些测试方法，本部分定义了带触点的集成电路卡的测试方法。英文名称：Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体
ICS分类：信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置
发布部门：国家标准化管理委员会
发布日期：2006-03-14
实施日期：2006-07-01
出版日期：2006-07-01
页数：51页
前言
GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为7个部分:-第1部分:一般特性测试-第2部分:磁条卡-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备-第4部分:无触点集成电路卡-第5部分:光记忆卡-第6部分:接近式卡-第7部分:邻近式卡本部分为GB/T17554的第3部分。修改采用国际标准ISO/IEC10373-3:2001《识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备})(英文版)。本部分与ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列内容:a)增加了4.6.2.2参数定义;b)附录A中增加了A.1.2点压力测试,:c)附录A因增加A.1.2,其编号作了编辑性修改。根据新版识别卡带触点的集成电路卡物理特性标准做了以上修改。本部分的附录A是资料性附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂。
