GB/T 13539.5-2013 低压熔断器 第5部分:低压熔断器应用指南

百检网 2022-10-19

标准简介

GB13539的本部分用于指导低压熔断器的应用,标准中表述了限流熔断器现在是如何容易地保护 复杂敏感的电气和电子设备。本部分特别适合于按照IEC60269系列设计和制造的交流至1000V、直 流至1500V 的低压熔断器。本部分在熔断器应用方面提供了重要的技术论据和资料。
英文名称:Low-voltage fuses—Part 5:Guidance for the application of low-voltage fuses
标准状态:作废
替代情况:被GB/T 13539.5-2020代替
中标分类:电工>>低压电器>>K30低压电器综合
ICS分类:电气工程>>电工器件>>29.120.50熔断器和其他过载保护
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2013-02-07
实施日期:2013-07-01
作废日期:2021-06-01
出版日期:2013-07-01
页数:48页

前言

GB13539《低压熔断器》预计分为6个部分:———第1部分:基本要求;———第2部分:专职人员使用的熔断器的补充要求(主要用于工业的熔断器)标准化熔断器系统示例A 至I;———第3部分:非熟练人员使用的熔断器的补充要求(主要用于家用和类似用途的熔断器)标准化熔断器系统示例A 至F;———第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求;———第5部分:低压熔断器应用指南;———第6部分:太阳能光伏系统保护用熔断体的补充要求。本部分为GB13539的第5部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC/TR60269-5:2010《低压熔断器 第5部分:低压熔断器应用指南》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB13539.1—2008 低压熔断器 第1部分:基本要求(IEC60269-1:2006,IDT);———GB/T13539.2—2008 低压熔断器 第2部分:专职人员使用的熔断器的补充要求(主要用于工业的熔断器)标准化熔断器系统示例A 至I(IEC60269-2:2006,IDT);———GB13539.3—2008 低压熔断器 第3部分:非熟练人员使用的熔断器的补充要求(主要用于家用和类似用途的熔断器)标准化熔断器系统示例A 至F(IEC60269-3:2006,IDT);———GB/T13539.4—2009 低压熔断器 第4 部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求(IEC60269-4:2006,IDT);———GB14048.3—2008 低压开关设备和控制设备 第3部分:开关、隔离器、隔离开关以及熔断器组合电器(IEC609473:2005,IDT);———GB14048.4—2010 低压开关设备和控制设备 第4-1部分:接触器和电动机起动器 机电式接触器和电动机起动器(含电动机保护器)(IEC60947-4-1:2009Ed.3.0,MOD);———GB/T15166.6—2008 高压交流熔断器 第6部分:用于变压器回路的高压熔断器的熔断体选用导则(IEC60787:1983,MOD);———GB16895.5—2000 建筑物电气装置 第4 部分:安全防护 第43 章:过电流保护(IEC60364-4-43:1997,IDT);———GB16895.6—2000 建筑物电气装置 第5部分:电气设备的选择和安装 第52章:布线系统(IEC60364-5-52:1993,IDT);———GB16895.21—2004 建筑物电气装置 第4-41部分:安全防护 电击保护(IEC60364-4-41:2001,IDT);———GB/T17950—2000 半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则(IEC/TR60146-6:1992,IDT);———GB/Z25842.1—2010 低压开关设备和控制设备 过电流保护电器 第1部分:短路定额的应用(IEC/TR61912-1:2007,IDT)。本部分做了下列编辑性修改:———删除国际标准的前言;———将“本报告”改为“本部分”;———第2章中“CEI61912-1”疑有误,改为“IEC61912-1”;———9.4.4中“对高于ID 的预期电流”疑有误,改为“对高于IC 的预期电流”;———10.3中“(见5.2.2)”疑有误,改为“(见5.3.2)”;———13.2b)中“表A.1”疑有误,改为“表A.2”;———13.2倒数第2段中“表A.3”疑有误,改为“表A.1”;———A.4.4注2中“Ic”疑有误,改为“Ico”;———A.5*后一段中“A.4.3给出的补充指南适用于Ir 试验”疑有误,改为“A.4.4给出的补充指南适用于Ir 试验”;———A.6注中“Ic”疑有误,改为“Ico”;———图A.5纵坐标中“I2t(A2s)”疑有误,改为“I2t(A2s)”。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国熔断器标准化技术委员会(SAC/TC340)归口。本部分负责起草单位:上海电器科学研究院、上海电科电器科技有限公司。本部分参加起草单位:宁波开关电器制造有限公司、浙江正泰电器股份有限公司、人民电器集团有限公司、好利来(中国)电子科技股份有限公司、西安中熔电气有限公司、苏州电器科学研究院股份有限公司、库柏西安熔断器有限公司、上海西门子线路保护系统有限公司、上海电器设备检测所、乐清市沪熔特种熔断器有限公司、浙江新力熔断器有限公司、温州三实电器有限公司。本部分主要起草人:吴庆云、季慧玉、梁利娟。本部分参加起草人:张寅、申奇、李全安、赖文辉、石晓光、胡德霖、张懿、沈花、邢琳、郑爱国、郑献昆、黄旭雄。

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