标准简介
本标准规定了半导体管特性图示仪的测试方法及误差计算等。本标准所用的术语符合GB/T13974《半导体管特性图示仪通用技术条件》中第三章的规定。本标准适用于测试GB/T13973中所规定的性能特性。英文名称：Test methods for semiconductor device curve tracers
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 13973-2012代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L86通用电子测量仪器设备及系统
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>电学、磁学、电和磁的测量>>17.220.20电和磁量值的测量
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-07-01
作废日期：2013-06-01
出版日期：2004-08-13
页数：平装16开， 页数：17， 字数：30千字
前言
通用电子测量仪器设备及系统相关标准
