标准简介
IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC 748-11/QC 790100 半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范英文名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Bland detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2001-01-01
实施日期：2002-06-01
出版日期：2004-04-17
页数：平装16开， 页数：18， 字数：33千字
前言
半导体集成电路相关标准
