标准简介
IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半导体器件 第12部分 光电子器件分规范英文名称：Semiconductor devices-Part 12-3:Optoelectronic devices-Blank detail specification for light emitting diodes--Display applicaton
标准状态：现行
替代情况：GB/T 12561-1990
中标分类：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L54半导体光敏器件
ICS分类：电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2002-12-04
实施日期：2003-05-01
出版日期：2003-05-01
页数：平装16开， 页数：12， 字数：20千字
前言
半导体光敏器件相关标准
