标准简介
本标准规定了原子力显微镜法(AFM)测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。 本标准适用于片径尺寸不小于300 nm 的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用。英文名称:Nanotechnologies—Thickness measurement of graphene oxide—Atomic Force Microscopy (AFM)
标准状态:现行
中标分类:综合>>基础学科>>A40基础学科综合
ICS分类:计量学和测量、物理现象>>17.180光学和光学测量
发布部门:国家市场监督管理总局.
发布日期:2021-05-21
实施日期:2021-12-01
出版日期:2021-05-01
页数:24页【彩图】
前言
基础学科综合相关标准