标准简介
本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞(HgCdTe)外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试,其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。英文名称：Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors
标准状态：现行
中标分类：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：航空器和航天器工程>>49.060航空航天用电气设备与系统
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2013-12-17
实施日期：2014-05-15
出版日期：2014-05-15
页数：36页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所。本标准主要起草人:杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力。
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