SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法

百检网 2022-10-28

标准简介

英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits
标准状态：现行
替代情况：原标准号GB 4590-84
中标分类：医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
作废日期：2010-01-20
页数：49页

前言

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