标准简介
本部分规定了面向工业应用的MCU芯片(以下简称芯片)的检测要求、检测方法和检验规则。本部分适用于面向工业应用的MCU芯片的鉴定验收和评价检测活动。英文名称:Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 8:MCU
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类:电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:中国电子学会
发布日期:2020-06-08
实施日期:2020-08-15
页数:28页
前言
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